IC封裝高壓加速老化試驗(yàn)箱HAST 非飽和型

IC封裝高壓加速老化試驗(yàn)箱HAST 非飽和型

技術(shù)優(yōu)勢(shì)?

?精準(zhǔn)環(huán)境模擬?

采用?非飽和蒸汽加濕技術(shù)?，避免樣品表面凝露干擾測(cè)試結(jié)果?

配備?干濕球雙傳感器?與PID智能算法，實(shí)現(xiàn)溫濕度精準(zhǔn)調(diào)控?。

?高強(qiáng)度結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)?

?內(nèi)膽材質(zhì)?：SUS316不銹鋼圓弧內(nèi)膽，防結(jié)露設(shè)計(jì)，耐受長(zhǎng)期高壓蒸汽腐蝕?。

?隔熱系統(tǒng)?：陶瓷纖維隔熱層+冷軋鋼板外殼，能耗降低30%?。

IC封裝高壓加速老化試驗(yàn)箱HAST 非飽和型

?安全防護(hù)系統(tǒng)?

?雙重泄壓保護(hù)?：機(jī)械安全閥+電子超壓報(bào)警，壓力超限自動(dòng)切斷電源?。

?多重故障防護(hù)?：斷水保護(hù)、空焚保護(hù)、漏電保護(hù)，符合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn)?。

?三、應(yīng)用場(chǎng)景?

?IC封裝測(cè)試?：快速暴露芯片分層、焊點(diǎn)腐蝕、金屬引線失效等問題（測(cè)試周期縮短至48小時(shí)）?。

?半導(dǎo)體器件可靠性驗(yàn)證?：評(píng)估BGA封裝、磁性材料在濕熱高壓下的壽命衰減特性?。

?軍工與汽車電子?：ECU控制器、傳感器密封性及耐候性測(cè)試?。

?四、增值服務(wù)?

?定制化方案?：支持樣品架尺寸、信號(hào)施加端子數(shù)量定制（標(biāo)準(zhǔn)配置8條端子）?。

?快速交付?：15天交付周期（含安裝調(diào)試與技術(shù)培訓(xùn)）?。

?售后服務(wù)?：整機(jī)質(zhì)保3年，核心部件（傳感器、壓縮機(jī)）終身維護(hù)?。

?五、測(cè)試效果與價(jià)值?

?加速老化效率?：模擬10年自然老化效果僅需240小時(shí)，降低研發(fā)周期與成本?。

?數(shù)據(jù)可靠性?：支持USB導(dǎo)出溫濕度曲線數(shù)據(jù)，兼容RS-485通訊接口?。

皓天HT-HAS-150以非飽和高壓環(huán)境為核心，滿足IC封裝等高精度測(cè)試需求，結(jié)合軍工級(jí)安全設(shè)計(jì)，為電子行業(yè)提供高效可靠的老化驗(yàn)證方案?。