硬盤芯片沖擊箱高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

硬盤芯片沖擊箱高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

1.造型設(shè)計(jì)：圓弧造型及表面噴塑處理，高質(zhì)感外觀，更顯潔凈美觀。
2.箱體內(nèi)膽采用(SUS304)不銹鋼板。
3.箱體外殼采用A3鋼板數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方。
4.觀察窗：高溫箱安裝矩形多層中空隔熱玻璃熱玻璃觀察窗一個(gè)(300×200mm ).觀察窗上安裝照明燈。
5.本冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，具之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果。
6.可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件的功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二槽或三槽之功能，具有高低溫試驗(yàn)箱的功能。
7.試驗(yàn)時(shí)待測物靜止，應(yīng)用冷風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測試試驗(yàn)。
8.保溫材料采用防火和隔熱高密度纖維棉。
9.測試區(qū)內(nèi)附上下可調(diào)不銹鋼盤兩組，便于吊藍(lán)上下轉(zhuǎn)換的隔溫性。
10.樣品架承重量為：(162型、300型20kg)(500型30kg)(010型50kg)。
11.箱體左側(cè)配Φ50mm測試孔一個(gè)，可供外接測試電源線或信號線使用。
12.冷熱沖擊試驗(yàn)箱箱體底部加裝高質(zhì)量承載PU活動輪，便于客戶移動設(shè)備。

硬盤芯片沖擊箱高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：
⒈高質(zhì)感外觀，機(jī)體采圓弧造型，表面經(jīng)霧面條紋處理，采用數(shù)控機(jī)床加工成型，并采用平面無反作用把手，操作容易簡便。造型美觀大方、新穎。
⒉長方形復(fù)層玻璃觀窗口，大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用雙層玻璃，隨時(shí)清晰的觀測試驗(yàn)中進(jìn)行試驗(yàn)品，窗口具防汗電熱器裝置可防止水氣凝結(jié)水滴，及高亮度PL熒光燈保持箱內(nèi)照明。
⒊箱門雙層隔絕氣密迫緊，可有效隔絕內(nèi)部溫度泄漏。
⒋具可外接式供水系統(tǒng)，方便于補(bǔ)充加濕桶供水，并自動回收使用。
5.設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，***實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔。
6.冷熱沖擊試驗(yàn)箱箱體箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成。

技術(shù)參數(shù)

內(nèi)箱尺寸：35×35×40（可按客戶要求定制）

外箱尺寸：151×182×142

試驗(yàn)方式：氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式

高溫室預(yù)熱溫度范圍：+60~+200℃

升溫速率：+60→+200℃約20分鐘

低溫室預(yù)冷溫度范圍：-78→0℃

降溫速率：+20→-75℃ 約70分鐘

試驗(yàn)室溫度偏差：±2℃

溫度范圍：A:-40℃~+150℃，B:-55℃~150℃，C:-65℃~+150℃

溫度恢復(fù)時(shí)間：5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力：30Kg

試樣重量：5 Kg

材質(zhì)：外殼防銹處理冷軋鋼板(噴塑)或不銹鋼板（SUS304）；內(nèi)體為不銹鋼板(SUS304) ，絕熱材料為聚氨酯泡沫和玻璃纖維